[实用新型]基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置有效
| 申请号： | 201620482920.6 | 申请日： | 2016-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN205630148U | 公开（公告）日： | 2016-10-12 |
| 发明（设计）人： | 吴石;王洋洋;刘献礼;王延福;刘海瑞 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨理工大学 |
| 主分类号： | B23Q17/20 | 分类号： | B23Q17/20;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 哈尔滨东方专利事务所 23118 | 代理人： | 陈晓光 |
| 地址： | 150080 黑龙江省哈尔滨市南*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置。机械加工的薄壁件表面误差测量通常接触式测量，接触零部件表面，其测量移动速度较慢，无法测量小于侧头曲率半径的微观凹坑。本实用新型组成包括：一组测量装置（14），测量装置包括套筒（1），套筒上部通过螺栓与支撑装置（9）连接，支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制器卡夹紧装置（2）连接，调制器卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间光调制器（3）、右液晶空间光调制器（8），左液晶空间光调制器、右液晶空间光调制器内表面分别安装有偏振片（7），套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪（6）。本实用新型用于基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 空间 调制器 薄壁 加工 误差 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于空间光调制器的薄壁件加工误差测量装置，其组成包括：一组测量装置，其特征是：所述的测量装置包括套筒，所述的套筒上部通过螺栓与支撑装置连接，所述的支撑装置两端通过连接轴分别与2个调制器卡夹紧装置连接，所述的调制器卡夹紧装置内部分别安装有左液晶空间光调制器、右液晶空间光调制器，所述的左液晶空间光调制器、所述的右液晶空间光调制器外表面分别安装有偏振片，所述的套筒上方通过方形凹槽安装有数字相移干涉仪。
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