[实用新型]一种激光光束质量测量装置有效
| 申请号： | 201620490223.5 | 申请日： | 2016-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN205843930U | 公开（公告）日： | 2016-12-28 |
| 发明（设计）人： | 洪良;刘海强 | 申请（专利权）人： | 西安工程大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所61214 | 代理人： | 罗笛 |
| 地址： | 710048 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开的一种激光光束质量测量装置，包括有设置于基板上的位置测量导轨滑台系统、透射‑反射系统和探测系统，还包括有设置于基板一侧的激光器，且在该基板上，位置测量导轨滑台系统位于透射‑反射系统及探测系统的上部，位置测量导轨滑台系统连接有宽度测量导轨滑台系统，透射‑反射系统位于激光器的光输出端，经激光器的光输出端射出的光传播至透射‑反射系统后能形成光路系统，探测系统位于该光路系统上。本实用新型的激光光束质量测量装置，能对激光光束的空间与时间特性进行快速、自动及高精度测量，解决了极细激光光斑宽度与脉冲特性的一体化测量问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 光束 质量 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种激光光束质量测量装置，其特征在于，包括有设置于基板(6)上的位置测量导轨滑台系统(2)、透射‑反射系统和探测系统，还包括有设置于基板(6)一侧的激光器(1)，且在所述基板(6)上，位置测量导轨滑台系统(2)位于透射‑反射系统及探测系统的上部，所述位置测量导轨滑台系统(2)连接有宽度测量导轨滑台系统(3)，所述透射‑反射系统位于激光器(1)的光输出端，经激光器(1)的光输出端射出的光传播至透射‑反射系统后能形成光路系统，所述探测系统位于所述光路系统上。
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