[实用新型]一种X射线测厚仪探头有效

专利信息
申请号: 201620492160.7 申请日: 2016-05-26
公开(公告)号: CN205785123U 公开(公告)日: 2016-12-07
发明(设计)人: 李蔚森;朱卫民 申请(专利权)人: 马鞍山恒瑞测量设备有限公司
主分类号: G01B15/02 分类号: G01B15/02
代理公司: 北京纽盟知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11456 代理人: 许玉顺
地址: 243000 安徽省马鞍山*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种X射线测厚仪探头,包括金属外壳体,金属外壳体内部分别设有气体电离室、前置放大板以及高压模块,气体电离室前端设有窗口,气体电离室与前置放大板相连,高压模块电性连接气体电离室,前置放大板上设有高倍低噪声运算放大模块,还包括屏蔽装置,屏蔽装置固定设置在窗口外侧,本实用新型结构原理简单,能够快速检测穿透钢板的X射线强度,采用的高倍低噪声运算放大模块,能够稳定的实现对微弱信号进行放大、且失真度低;另外在窗口上设置屏蔽装置,能够防止电磁干扰,提高了检测的准确性。
搜索关键词: 一种 射线 测厚仪 探头
【主权项】:
一种X射线测厚仪探头, 包括金属外壳体(1),其特征在于:所述金属外壳体(1)内部分别设有气体电离室(2)、前置放大板(3)以及高压模块(4),所述气体电离室(2)前端设有窗口(5),所述气体电离室(2)与前置放大板(3)相连,所述高压模块(4)电性连接气体电离室(2),所述前置放大板(3)上设有高倍低噪声运算放大模块(6),还包括屏蔽装置(7),所述屏蔽装置(7)固定设置在窗口(5)外侧。
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