[实用新型]晶体加压测漏罐有效

专利信息
申请号: 201620510851.5 申请日: 2016-05-29
公开(公告)号: CN205719414U 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 陈康;徐兴华;伊利平;鲍旭伟;徐天云 申请(专利权)人: 金华市创捷电子有限公司
主分类号: G01M3/02 分类号: G01M3/02;G01M3/40
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 项军
地址: 321016 浙江省金华市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型的目的在于提供晶体加压测漏罐,晶体放入后能快速完成加压检测的过程,提高了检测的效率。为了实现所述目的,本实用新型晶体加压测漏罐,包括带有上盖的罐体,所述罐体内设有晶体放置架,所述上盖和罐体之间设有密封装置,所述罐体内设有加压口和加液口,所述加压口和加液口的外延管道上均设有阀门,还包括一个集成检测仪,所述集成检测仪的探头通过加压口连接到晶体放置架上。通过这样的设置,本实用新型晶体加压测漏罐和现有技术相比,在加压过程中直接通过检测装置来进行检测,取出后直接清洗、干燥后就能包装,避免现有技术中在检测过程中导致晶体二次受损。
搜索关键词: 晶体 加压 测漏罐
【主权项】:
晶体加压测漏罐,包括带有上盖(1)的罐体(2),所述罐体(2)内设有晶体放置架(3),其特征在于:所述上盖(1)和罐体(2)之间设有密封装置,所述罐体(2)内设有加压口(5)和加液口(6),所述加压口(5)和加液口(6)的外延管道上均设有阀门(7),还包括一个集成检测仪(8),所述集成检测仪(8)的探头通过加压口(5)连接到晶体放置架(3)上。
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