[实用新型]接触电阻测试装置有效
| 申请号： | 201620536282.1 | 申请日： | 2016-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN205749681U | 公开（公告）日： | 2016-11-30 |
| 发明（设计）人： | 阮献忠 | 申请（专利权）人： | 泰州市双宇电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/08 | 分类号： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 225300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及电子仪表技术领域，具体涉及一种接触电阻测试装置。本实用新型的有益效果是：本装置采用脉冲电流法对接触电阻进行测量,对触头表面原始状态破坏小,触头因焦耳热产生的温升小,所采用的原理和接线方式可以避免电流源纹波和引线电阻对测量结果的影响,可实现接触电阻的精确测量；通过压力传感器对触头压力进行测量,能准确反映触头压力与接触电阻之间的关系,对了解压力对接触电阻的影响有较强的实际意义。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 电阻 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种接触电阻测试装置，其特征在于：包括电源，所述电源的输出端连接金氧半场效晶体管MOSFET，所述MOSFET的输入端还连接MOSFET触发电路，所述MOSFET的输出端连接被测电阻，所述被测电阻的输出端分别连接压力传感器和触头电压信号处理电路，所述压力传感器的输出端连接压力信号处理电路，所述触头电压信号处理电路和压力信号处理电路的输出端均连接单片机，所述单片机的输出端连接所述MOSFET触发电路。
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