[实用新型]一种行星架专用四孔位置度检具有效

专利信息
申请号: 201620546592.1 申请日: 2016-06-07
公开(公告)号: CN206146328U 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: 蔡宁 申请(专利权)人: 杭州太普机械科技有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司31253 代理人: 冯子玲
地址: 311256 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型涉及一种行星架专用四孔位置度检具,其特征在于包括基座、轴向定位销,基座的中心设有工件主轴定位孔,基座上工件轴向定位孔的径向周侧均设置四组轴向定位销孔,所述轴向定位销与轴向定位销孔匹配插接,工件主轴定位孔的一侧端部设有坡口I。本实用新型与背景技术相比,具有结构简单,制作方面,制作成本低,可随意移动并对使用环境无要求;设计工件主轴定位孔作为工件主轴的定位基准,工件轴向定位孔的径向周侧设置的四组轴向定位销孔作为工件轴向周侧轴孔的定位基准,在通过插入轴向定位销来确定工件上轴孔的角向位置,若销子能轻松进入,说明位置度好;若销子不能进去,则位置度不好。
搜索关键词: 一种 行星 专用 四孔 位置 度检具
【主权项】:
一种行星架专用四孔位置度检具,其特征在于包括基座(1)、轴向定位销(2),基座(1)的中心设有工件主轴定位孔(11),基座(1)上工件轴向定位孔(11)的径向周侧均设置四组轴向定位销孔(12),所述轴向定位销(2)与轴向定位销孔(12)匹配插接,工件主轴定位孔(11)的一侧端部设有坡口I(13)。
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