[实用新型]一种用于测量物件尺寸的测量装置有效

专利信息
申请号: 201620567526.2 申请日: 2016-06-13
公开(公告)号: CN205808357U 公开(公告)日: 2016-12-14
发明(设计)人: 周峰;谭晓军;杜勇刚;魏荣财;邓崇凯;陈博 申请(专利权)人: 东莞市普密斯精密仪器有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司44215 代理人: 肖冬
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种用于测量物件尺寸的测量装置。测量装置包括:光源,用以产生低相干光;光纤耦合器,用于实现光信号的分路和合路;光纤,用于传输光信号;载物装置,用于盛放被测物;检测光纤准直仪,用于将光纤的光投射到载物装置的基准面或位于载物装置的被测物,以及将载物装置的基准面或被测物反射的光耦合至光纤内;光路反射装置,可改变光程且将光信号原路反射;光信号检测处理装置,用于检测光信号是否发生干涉,并与光路反射装置连接,计算两次发生干涉时光程的改变量。本实用新型取得的有益效果:根据低相干光的干涉特性调整参考光程,通过光程差得出被测物厚度,该测量装置简单且精度高。
搜索关键词: 一种 用于 测量 物件 尺寸 装置
【主权项】:
用于测量物件尺寸的测量装置,其特征在于:包括:光源,用以产生低相干光;光纤耦合器,用于实现光信号的分路和合路;光纤,用于传输光信号;载物装置,用于盛放被测物;检测光纤准直仪,用于将光纤的光投射到载物装置的基准面或位于载物装置的被测物,以及将载物装置的基准面或被测物反射的光耦合至光纤内;光路反射装置,可改变光程且将光信号原路反射;光信号检测处理装置,用于检测光信号是否发生干涉,并与光路反射装置连接,计算两次发生干涉时光程的改变量。
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