[实用新型]电子器具的功能及寿命的测试设备有效

专利信息
申请号: 201620578374.6 申请日: 2016-06-15
公开(公告)号: CN205719523U 公开(公告)日: 2016-11-23
发明(设计)人: 李文峰;刘露 申请(专利权)人: 深圳市共进电子股份有限公司
主分类号: G01M13/00 分类号: G01M13/00;G01R31/327;G08C25/00
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人: 陈凯玉
地址: 518000 广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B11*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种电子器具的功能及寿命的测试设备,包括安装机柜、按键功能测试模组、按键寿命测试模组及控制系统,按键功能测试模组包括功能测试治具、功能测试按压装置、功能测试移动系统及功能测试分析装置;按键寿命测试模组包括寿命测试治具、压紧机构、寿命测试按压装置、寿命测试移动系统及寿命测试分析装置;控制系统分别与按键功能测试模组、按键寿命测试模组电连接。当进行电子器具的功能和寿命测试时,只要将电子器具置于对应的功能测试治具、寿命测试治具上即可,便可进行相应的自动化测试,有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。
搜索关键词: 电子 器具 功能 寿命 测试 设备
【主权项】:
一种电子器具的功能及寿命的测试设备,所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键,其特征在于,所述测试设备包括:安装机柜,所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架;按键功能测试模组,所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置;按键寿命测试模组,所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置;控制系统,所述控制系统设置于安装机柜上,并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。
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