[实用新型]一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路有效

专利信息
申请号: 201620672115.X 申请日: 2016-06-28
公开(公告)号: CN205900098U 公开(公告)日: 2017-01-18
发明(设计)人: 张景波;安祥文;蔺智挺;吴秀龙;彭春雨;黎轩;陈军宁 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G11C11/419 分类号: G11C11/419
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 代理人: 郑立明,郑哲
地址: 230601 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路,包括2个PMOS管P1与P2,两个电容C1与C2;其中电容C1的一端接SRAM中的位线BL,另一端与PMOS管P1的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端sa_in,PMOS管P1的栅极接到控制信号源极接到VDD;电容C2的一端接SRAM中的位线BLB,另一端与PMOS管P2的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端PMOS管P2的栅极接到控制信号源极接到VDD;以灵敏放大器的输入端sa_in与之间的电位差来取代位线BL和BLB之间的电位差。通过采用本实用新型公开的抑制电路,能够改善漏电流对SRAM读操作的影响,增强读稳定性,使器件抗漏流干扰能力增强。
搜索关键词: 一种 新型 sram 漏电 效应 抑制 电路
【主权项】:
一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路,其特征在于,包括:2个PMOS管P1与P2,两个电容C1与C2;其中:电容C1的一端接SRAM中的位线BL,另一端与PMOS管P1的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端sa_in,PMOS管P1的栅极接到控制信号源极接到VDD;电容C2的一端接SRAM中的位线BLB,另一端与PMOS管P2的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端PMOS管P2的栅极接到控制信号源极接到VDD。
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