[实用新型]一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路有效
申请号: | 201620672115.X | 申请日: | 2016-06-28 |
公开(公告)号: | CN205900098U | 公开(公告)日: | 2017-01-18 |
发明(设计)人: | 张景波;安祥文;蔺智挺;吴秀龙;彭春雨;黎轩;陈军宁 | 申请(专利权)人: | 安徽大学 |
主分类号: | G11C11/419 | 分类号: | G11C11/419 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 | 代理人: | 郑立明,郑哲 |
地址: | 230601 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路,包括2个PMOS管P1与P2,两个电容C1与C2;其中电容C1的一端接SRAM中的位线BL,另一端与PMOS管P1的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端sa_in,PMOS管P1的栅极接到控制信号源极接到VDD;电容C2的一端接SRAM中的位线BLB,另一端与PMOS管P2的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端PMOS管P2的栅极接到控制信号源极接到VDD;以灵敏放大器的输入端sa_in与之间的电位差来取代位线BL和BLB之间的电位差。通过采用本实用新型公开的抑制电路,能够改善漏电流对SRAM读操作的影响,增强读稳定性,使器件抗漏流干扰能力增强。 | ||
搜索关键词: | 一种 新型 sram 漏电 效应 抑制 电路 | ||
【主权项】:
一种新型SRAM位线漏电流效应抑制电路,其特征在于,包括:2个PMOS管P1与P2,两个电容C1与C2;其中:电容C1的一端接SRAM中的位线BL,另一端与PMOS管P1的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端sa_in,PMOS管P1的栅极接到控制信号源极接到VDD;电容C2的一端接SRAM中的位线BLB,另一端与PMOS管P2的漏极相连,同时一起接到SRAM中的灵敏放大器的输入端PMOS管P2的栅极接到控制信号源极接到VDD。
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