[实用新型]一种微控制器SOC内建IO映射测试装置有效
申请号: | 201620699882.X | 申请日: | 2016-07-05 |
公开(公告)号: | CN205787883U | 公开(公告)日: | 2016-12-07 |
发明(设计)人: | 万上宏;叶媲舟;黎冰;涂柏生 | 申请(专利权)人: | 深圳市博巨兴实业发展有限公司 |
主分类号: | G05B23/02 | 分类号: | G05B23/02 |
代理公司: | 深圳力拓知识产权代理有限公司44313 | 代理人: | 龚健 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种微控制器SOC内建IO映射测试装置,包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块。本实用新型的有益效果是:1、本方案可以高效地对微控制器SOC内部的集成IP进行测试。在微控制器SOC出现失效的时候,也可以在测试模式下对内部集成的IP进行失效分析。2、本方案能够改善微控制器SOC的测试效率,只需要增加极少的资源来实现内建IO映射测试逻辑,几乎不需要增加微控制器SOC的制造成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 控制器 soc io 映射 测试 装置 | ||
【主权项】:
一种微控制器SOC内建IO映射测试装置,包括外部测试逻辑模块、微控制器内核、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、内部测试控制模块和IO控制模块,其特征在于,所述外部测试逻辑模块包括串行通信接口和外部测试控制模块,IO控制模块分别连接外部测试控制模块、知识产权模块IP1、知识产权模块IP2、微控制器内核和内部测试控制模块,所述内部测试控制模块还连接串行通信接口。
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