[实用新型]一种薄膜监测设备

摘要

本实用新型提供一种薄膜监测设备，其特征在于：包括机架、传送辊、透光率测量部件和厚度测量部件；所述传送辊转动连接于所述机架上，用于传送薄膜；所述透光率测量部件包括相对设置在该薄膜两侧的激光发射器和光强测试仪；所述厚度测量部件包括下测厚辊、上测厚辊、位移组件和位移传感器，所述下测厚辊转动连接于所述机架上，所述上测厚辊位于所述下测厚辊上方，且可在所述机架上转动又可沿所述机架上下滑动，该薄膜位于所述下测厚辊和所述上测厚辊之间，且始终紧贴所述下测厚辊和所述上测厚辊，所述位移组件设置于所述机架和所述上测厚辊之间，且可随所述上测厚辊上下滑动，所述位移传感器设置于所述机架上，用于测量所述位移组件的滑动距离。

主权项

一种薄膜监测设备，其特征在于：包括机架、传送辊、透光率测量部件和厚度测量部件；所述传送辊转动连接于所述机架上，用于传送薄膜；所述透光率测量部件包括相对设置在该薄膜两侧的激光发射器和光强测试仪；所述厚度测量部件包括下测厚辊、上测厚辊、位移组件和位移传感器，所述下测厚辊转动连接于所述机架上，所述上测厚辊位于所述下测厚辊上方，且可在所述机架上转动又可沿所述机架上下滑动，该薄膜位于所述下测厚辊和所述上测厚辊之间，且始终紧贴所述下测厚辊和所述上测厚辊，所述位移组件设置于所述机架和所述上测厚辊之间，且可随所述上测厚辊上下滑动，所述位移传感器设置于所述机架上，用于测量所述位移组件的滑动距离。