[实用新型]改进的检测治具的针座结构

摘要

本实用新型公开了一种改进的检测治具的针座结构，包括基座、基材及多个测试探针，其中该基座表面贯设有多个第一穿孔及多个第一定位孔，基座上方迭放的基材表面贯设有与多个第一穿孔呈错位的多个第二穿孔，以及与多个第一定位孔呈对正的多个第二定位孔，其基座及基材间欲设置多个测试探针时，先将多个第一穿孔对正于多个第二穿孔，再将测试探针插入至第一穿孔与第二穿孔间，待插设完成后，再使第一定位孔对正于第二定位孔并插设固定组件，以使其固定，同时，测试探针会受到第一穿孔与第二穿孔内壁面挤压，从而形成出倾斜部，以使测试探针限位于基座与基材间，进而避免脱离或掉落，且由于基材与基座相互迭合，便可减少使用构件，以降低制造成本。

主权项

一种改进的检测治具的针座结构，该针座包括基座、基材及多个测试探针，其特征在于：该基座表面上贯设有多个第一穿孔，且基座表面上于多个第一穿孔周围处贯设有多个第一定位孔；该基材迭放于基座上方，并于基材表面上贯设有组装后与多个第一穿孔形成错位状态且对应于预设电路板的多个测试点位置处的多个第二穿孔，再于基材表面上且于多个第二穿孔周围处贯设有对正于多个第一定位孔处以供预设固定组件穿过并使基座与基材固定的多个第二定位孔；及该多个测试探针为导电材质所制成且设置于基座及基材之间，并于测试探针一侧设有插入至第一穿孔内的第一端部，另一侧设有插入至第二穿孔内并与预设电路板的测试点形成电性接触的第二端部，且第一端部与第二端部之间形成有倾斜部。