[实用新型]一种MOSFET器件有效
申请号: | 201620786862.6 | 申请日: | 2016-07-25 |
公开(公告)号: | CN205944098U | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 左义忠;杨寿国;张海宇;曲亮;贾国 | 申请(专利权)人: | 吉林华微电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/40 | 分类号: | H01L29/40;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人: | 毕强 |
地址: | 132013 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及半导体器件技术领域,具体而言,涉及一种MOSFET器件,包括N+层、N区、栅电极区和源极金属,N+层上依次设置有N区、栅电极区和源极金属,源极金属与N区之间形成肖特基结,N区设置有第一凹槽和第二凹槽,且第二凹槽深度大于第一凹槽深度,栅电极区位于第一凹槽内,其中N区顶部上有MOSFET的沟道,沟道为肖特基结的势垒区,沟道长度非常短,可以在一定程度上克服MOSFET的沟道电子迁移率低沟道电阻大的问题,第一凹槽为MOSFET的栅沟槽,第二凹槽为肖特基源区的沟槽,而且第二凹槽的深度大于第一凹槽的深度,在器件承载电压的时候,肖特基结对MOSFET栅沟槽底部形成电场屏蔽,来降低MOSFET栅沟槽底部电场,改善MOSFET的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 一种 mosfet 器件 | ||
【主权项】:
一种MOSFET器件,其特征在于,包括:N+层、N区、栅电极区和源极金属;所述N+层上依次设置有所述N区、所述栅电极区和所述源极金属;所述源极金属与所述N区之间形成肖特基结;所述N区设置有第一凹槽和第二凹槽,且所述第二凹槽深度大于所述第一凹槽深度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉林华微电子股份有限公司,未经吉林华微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620786862.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具有N‑/N+/N+型三维结构的半导体晶圆
- 下一篇:一种IGBT器件
- 同类专利
- 专利分类