[实用新型]一种IGBT器件有效

专利信息
申请号: 201620786864.5 申请日: 2016-07-25
公开(公告)号: CN205845958U 公开(公告)日: 2016-12-28
发明(设计)人: 刘广海;叶武阳;宋宏德;邢文超;贾国 申请(专利权)人: 吉林华微电子股份有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L29/423
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 代理人: 毕强
地址: 132013 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及半导体器件技术领域,尤其涉及一种IGBT器件。其包括肖特基二极管和沟槽MOSFET,沟槽MOSFET由下到上依次包括P+衬底、耐压漂移区、P型体区外延层和N+源区外延层;在沟槽MOSFET的上端开设有栅区沟槽和肖特基沟槽,且两者均位于耐压漂移区内,肖特基沟槽深于栅区沟槽;在栅区沟槽内固定设置有栅电极,栅电极与栅区沟槽间存在栅氧化层,栅电极的上半部分外围设置有栅电极绝缘保护层;肖特基二极管的下端与肖特基沟槽配合;肖特基二极管与沟槽MOSFET的源极公用金属电极。本实用新型提供的IGBT器件,能够增强栅氧化层的可靠性,制造成本得以降低。
搜索关键词: 一种 igbt 器件
【主权项】:
一种IGBT器件,其特征在于,包括P+衬底、肖特基二极管和沟槽MOSFET;其中,所述P+衬底与所述沟槽MOSFET的下底面固定连接;所述沟槽MOSFET由下到上依次包括耐压漂移区、P型体区外延层和N+源区外延层,且每相邻两层之间均紧密接触;所述沟槽MOSFET的上端中间位置开设有栅区沟槽;所述沟槽MOSFET的上端边缘位置开设有肖特基沟槽;所述栅区沟槽和所述肖特基沟槽的底面均位于所述耐压漂移区的内部;所述肖特基沟槽的深度大于所述栅区沟槽的深度;所述沟槽MOSFET还包括栅电极;所述栅电极固定设置在所述栅区沟槽中;所述栅区沟槽与所述栅电极之间存在栅氧化层;所述栅电极高出所述栅区沟槽的部分的外围设置有栅电极绝缘保护层;所述肖特基二极管的下端通过所述肖特基沟槽与所述沟槽MOSFET的上端配合;所述肖特基二极管与所述沟槽MOSFET的源极共用金属电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉林华微电子股份有限公司,未经吉林华微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201620786864.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top