[实用新型]一种TZ‑603B自动探针台测试仪有效
| 申请号： | 201620806595.4 | 申请日： | 2016-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN206178072U | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张宾 | 申请（专利权）人： | 广州奥松电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R1/067 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)44288 | 代理人： | 陈振楔;李悦 |
| 地址： | 510470 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种TZ‑603B自动探针台测试仪，其特征在于：包括MCU单元(1)、测试探针(7)和电源模块(6)；电源模块(6)连接MCU单元(1)的电源端，测试探针(7)连接MCU单元(1)的I/O口；MCU单元(1)一侧连接有晶振电路(2)和复位电路(3)；MCU单元(1)另一侧安装有DB25接口(4)，MCU单元(1)通过DB25接口(4)连接有自动探针台(5)；达到了设计简易，使用方便，检测速度快，制作成本低稳定性好，无需后期维护且节省人力成本，在测试的过程中无需专人看管的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tz 603 自动 探针 测试仪 | ||
【主权项】：
一种TZ‑603B自动探针台测试仪，其特征在于：包括MCU单元(1)、测试探针(7)和电源模块(6)；电源模块(6)连接MCU单元(1)的电源端，测试探针(7)连接MCU单元(1)的I/O口；MCU单元(1)一侧连接有晶振电路(2)和复位电路(3)；MCU单元(1)另一侧安装有DB25接口(4)，MCU单元(1)通过DB25接口(4)连接有自动探针台(5)；MCU单元(1)的PA2脚连接DB25接口(4)的10脚；MCU单元(1)的PA2脚连接有三极管Q1，MCU单元(1)通过三极管Q1连接DB25接口(4)的5脚；MCU单元(1)的PA3脚连接有三极管Q2，MCU单元(1)通过三极管Q2连接DB25接口(4)的1脚。
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