[实用新型]光电探测器芯片的快速测试装置有效
| 申请号： | 201620827180.5 | 申请日： | 2016-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN205844396U | 公开（公告）日： | 2016-12-28 |
| 发明（设计）人： | 陈勘 | 申请（专利权）人： | 西安中为光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京鼎宏元正知识产权代理事务所(普通合伙)11458 | 代理人： | 邓金涛 |
| 地址： | 710000 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种光电探测器芯片的快速测试装置，包括测试装置、LED光源、扫描控制模块和机械控制台，扫描控制模块定位机械控制台上芯片的位置，机械控制台位于LED光源下方，LED光源包括环状的底座和LED灯，LED光源上方有环状、与所述底座相适配的散热器；测试装置包括电源控制模块、电流测试模块和数据转档模块，所述电源控制模块在芯片两端加载稳定电压，电流测试模块测定回路中的电流，测试数据转档模块将测得的电流作为对芯片好坏进行分类的依据。本实用新型采用LED紫外光源代替传统的汞灯，并且采用全自动化的机械控制装置和测试装置进行连续生产，提高了光电探测器芯片的测试效率，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 探测器 芯片 快速 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种光电探测器芯片的快速测试装置，其特征在于，包括，机械控制装置（1）、测试装置（3）和LED光源（4），其中，机械控制装置（1）包括扫描控制模块和机械控制台，扫描控制模块定位机械控制台上待测芯片（2）的位置，机械控制台位于向下照射的LED光源（4）下方，LED光源（4）包括环状的底座和置于底座上的紫外LED灯，LED光源（4）为紫外光源或红外光源的一种，上方有环状的散热器，大小与所述底座相适配；测试装置包括电源控制模块、电流测试模块和数据转档模块，所述电源控制模块通过导线、探针（5）与待测芯片（2）连接构成回路，并在待测芯片（2）两端加载稳定电压，电流测试模块测定回路中的电流，并根据测得的电流通过测试数据转档模块对待测芯片（2）的好坏进行分类，测试数据转档模块将测得的电流作为对待测芯片好坏进行分类的依据。
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