[实用新型]PoGoPIN使用寿命检测设备有效

专利信息
申请号: 201620844625.0 申请日: 2016-08-05
公开(公告)号: CN206223880U 公开(公告)日: 2017-06-06
发明(设计)人: 吕克振;蔡彬彬 申请(专利权)人: 上海微曦自动控制技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01M13/00;G01R27/02;B07C5/344
代理公司: 上海唯源专利代理有限公司31229 代理人: 曾耀先
地址: 201203 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及PoGoPIN检测领域,尤其涉及一种对检测PoGoPIN的使用寿命的检测设备。为实现对PogoPIN的使用寿命进行检测,本实用新型提出一种PogoPIN使用寿命检测设备,其包括PogoPIN安装基台、测试手臂、驱动电机、电阻测试仪、处理控制装置和显示装置,测试手臂的测试端位于PogoPIN安装基台的上方并在驱动电机的驱动下进行上下重复运动,对位于PogoPIN安装基台上的待检测PogoPIN进行下压测试;在下压测试过程中,电阻测试仪对待检测PogoPIN的电阻进行实时检测并将检测到的电阻值传输到处理控制装置中;处理控制装置对接收到的电阻值进行处理得出待检测PogoPIN的使用寿命并传输到显示装置中进行显示。该PogoPIN使用寿命检测设备对PogoPIN的使用寿命进行检测,直观地得出待检测PogoPIN的使用寿命,检测简单方便。
搜索关键词: pogopin 使用寿命 检测 设备
【主权项】:
一种PogoPIN使用寿命检测设备,其特征在于,该PogoPIN使用寿命检测设备包括PogoPIN安装基台、测试手臂、驱动电机、电阻测试仪、处理控制装置和显示装置,所述测试手臂的测试端与所述驱动电机的输出端连接并位于所述PogoPIN安装基台的上方,且所述测试手臂的测试端在所述驱动电机的驱动下进行上下重复运动,对位于所述PogoPIN安装基台上的待检测PogoPIN进行下压测试;所述电阻测试仪用于在下压测试过程中对所述待检测PogoPIN的电阻进行实时检测并将检测到的电阻值传输到所述处理控制装置中;所述处理控制装置用于对接收到的电阻值进行处理以得出所述待检测PogoPIN的使用寿命,并将处理结果传输到所述显示装置中进行显示。
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