[实用新型]一种TF卡测试装置有效
| 申请号： | 201620852796.8 | 申请日： | 2016-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN205943469U | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 陈德政;李耿 | 申请（专利权）人： | 东信和平科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/44 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司44202 | 代理人： | 温旭 |
| 地址： | 519000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种TF卡测试装置，其包括至少一套信号独立的测试单元，每套测试单元包括TF卡托盘、与用于与待测TF卡进行数据交互的计算机信号连接的电路板，及测试针；所述TF卡托盘用于放置所述待测TF卡，所述电路板位于所述TF卡托盘之下，所述测试针的底端与所述电路板始终电性接触，测试针的顶端裸露于所述TF卡托盘表面，所述待测TF卡被下压后其测试点与所述测试针的顶端电性接触，从而使得待测TF卡和所述电路板信号连通。本实用新型结构简单，使用方便，适用性强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tf 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种TF卡测试装置，其特征在于：其包括至少一套信号独立的测试单元，每套测试单元包括：TF卡托盘、与用于与待测TF卡进行数据交互的计算机信号连接的电路板，及测试针；所述TF卡托盘用于放置所述待测TF卡，所述电路板位于所述TF卡托盘之下，所述测试针的底端与所述电路板始终电性接触，所述测试针的顶端裸露于所述TF卡托盘表面，所述待测TF卡被下压后其测试点与所述测试针的顶端电性接触，从而使得待测TF卡和所述电路板信号连通。
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