[实用新型]ZIF连接器下针测试结构有效
| 申请号： | 201620886987.6 | 申请日： | 2016-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN205958669U | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 韦锦景 | 申请（专利权）人： | 珠海市运泰利自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州市红荔专利代理有限公司44214 | 代理人： | 王贤义,何承鑫 |
| 地址： | 519180 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种结构简单、测试效率高、成本低且能满足产品测试自动化要求的ZIF连接器下针测试结构。本实用新型包括PCB板（1）、针块（2）、针盖（3）、至少两根弹簧（4）和针块固定座（5），在针块（2）上固定设置有若干探针（6），在针盖上设置有供探针穿过且与探针的数目一致的针孔（31），弹簧的下端固定在针块上，上端顶在针盖的下侧面上，针盖上还设置有凸台（32），在针块固定座上设置有与凸台（32）相顶紧配合的卡台（51），PCB板和针块均与针块固定座固定连接，在针块上，若干探针错位设置，探针的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应。本实用新型可应用于测试设备领域。 | ||
| 搜索关键词： | zif 连接器 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种ZIF连接器下针测试结构，其特征在于：所述测试结构包括PCB板（1）、针块（2）、针盖（3）、至少两根弹簧（4）和针块固定座（5），在所述针块（2）上固定设置有若干探针（6），在所述针盖（3）上设置有供所述探针（6）穿过且与所述探针（6）的数目一致的针孔（31），所述弹簧（4）的下端固定在所述针块（2）上，上端顶在所述针盖（3）的下侧面上，所述针盖（3）上还设置有凸台（32），在所述针块固定座（5）上设置有与所述凸台（32）相顶紧配合的卡台（51），所述PCB板（1）和所述针块（2）均与所述针块固定座（5）固定连接，在所述针块（2）上，若干所述探针（6）错位设置，所述探针（6）的设置位置与待测的ZIF连接器上的PIN脚的波峰处相对应。
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