[实用新型]霍尔传感器磁通量测试结构有效

专利信息
申请号: 201620906753.3 申请日: 2016-08-19
公开(公告)号: CN205958730U 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 莫伟健;何郁明 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司44214 代理人: 王贤义
地址: 519180 广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种霍尔传感器磁通量测试结构,旨在提供一种结构紧凑、装配维修保养操作方便和测试准确率高的霍尔传感器磁通量测试结构。本实用新型包括功能测试模块、分体式测试机柜和触摸式控制系统,所述功能测试模块和所述触摸式控制系统均安装在所述分体式测试机柜的柜台面上,所述触摸式控制系统位于所述功能测试模块的一侧,所述功能测试模块包括霍尔传感器触发机构、电学性能测试机构和运动控制机构,所述运动控制机构设置于所述分体式测试机柜的柜台面上,所述电学性能测试机构固定安装于所述运动控制机构上,所述电学性能测试机构上设置有两个所述霍尔传感器触发机构。本实用新型应用于霍尔传感器的磁通量校准测试设备的技术领域。
搜索关键词: 霍尔 传感器 磁通量 测试 结构
【主权项】:
一种霍尔传感器磁通量测试结构,其特征在于:它包括功能测试模块(1)、分体式测试机柜(2)和触摸式控制系统(3),所述功能测试模块(1)和所述触摸式控制系统(3)均安装在所述分体式测试机柜(2)的柜台面上,所述触摸式控制系统(3)位于所述功能测试模块(1)的一侧,所述功能测试模块(1)包括霍尔传感器触发机构(4)、电学性能测试机构(5)和运动控制机构(6),所述运动控制机构(6)设置于所述分体式测试机柜(2)的柜台面上,所述电学性能测试机构(5)固定安装于所述运动控制机构(6)上,所述电学性能测试机构(5)上设置有两个所述霍尔传感器触发机构(4)。
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