[实用新型]一种使用弱电检测装置的整流二极管有效

专利信息
申请号: 201620910799.2 申请日: 2016-08-19
公开(公告)号: CN205985005U 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 刘忠玉;骆宗友 申请(专利权)人: 东莞市佳骏电子科技有限公司
主分类号: H01L29/861 分类号: H01L29/861;H01L29/06;H01L23/31;H01L23/34;H01L23/544
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 代理人: 肖平安
地址: 523808 广东省东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种使用弱电检测装置的整流二极管,包括封装体、二极管本体、P型半导体电极、N型半导体电极,P型半导体电极和N型半导体电极相互烧结生成与二极管本体相匹配的结界面,P型半导体电极与N型半导体电极的自由端分别设有P极弱电检测装置和N极弱电检测装置。本实用新型的有益效果是电压从N极流向P极时芯片控制电流形成微定量电泳泳向P电极,防止电压电流过大烧毁二极管,弱电检测装置能够检测出电压和电流情况,从而掌握电路的导通情况;通过在进行P区质扩散时采用二次扩散工艺,提高了P区载流子有效浓度,提高了芯片的耐压性和可靠性;在封装体表面添加降温层,避免由于温度过高而导致损坏。
搜索关键词: 一种 使用 检测 装置 整流二极管
【主权项】:
一种使用弱电检测装置的整流二极管,其特征在于:包括封装体(1)、二极管本体(2)、P型半导体电极(3)、N型半导体电极(4),所述P型半导体电极(3)和N型半导体电极(4)相互烧结生成与二极管本体(2)相匹配的结界面(5),所述二极管本体(2)、P型半导体电极(3)、N型半导体电极(4)和结界面(5)置于封装体(1)内部,所述二极管本体(2)包括芯片(6)、金属触点(7)和引线(8),所述金属触点(7)分别设在芯片(6)的左右两侧,所述芯片(6)的左侧金属触点(7)通过引线(8)和P型半导体电极(3)电性连接,所述芯片(6)的右侧金属触点(7)通过引线(8)和N型半导体电极(4)电性连接,所述二极管本体(2)的底部设有DAF膜(9),所述二极管本体(2)通过DAF膜(9)固定在结界面(5)的上表面,所述P型半导体电极(3)与N型半导体电极(4)的自由端分别设有P极弱电检测装置(10)和N极弱电检测装置(11)。
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