[实用新型]电池膜外观的检测系统有效
申请号: | 201620916164.3 | 申请日: | 2016-08-19 |
公开(公告)号: | CN206271666U | 公开(公告)日: | 2017-06-20 |
发明(设计)人: | 李士刚;戚运东;孟庆凯 | 申请(专利权)人: | 山东新华联新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人: | 韩建伟,张永明 |
地址: | 252000 山东省聊城*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种电池膜外观的检测系统。其中,位于物理气相沉积PVD设备出料口处,该检测系统包括拍照设备、检测光源和图像处理设备,其中,检测光源,位于待检测位置,用于对位于待检测位置的待检测电池膜提供补充光源;拍照设备,位于待检测位置的水平上方,用于采集补充光源后的待检测电池膜的外观图像;图像处理设备,与拍照设备连接,用于判断拍照设备采集的上述外观图像是否与预设图像标准匹配。本实用新型解决了由于相关技术中需要人工检测电池膜的外观是否存在瑕疵,导致检测效率低误差大的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 电池 外观 检测 系统 | ||
【主权项】:
一种电池膜外观的检测系统,其特征在于,位于物理气相沉积PVD设备出料口处,所述检测系统包括:拍照设备、检测光源和图像处理设备,其中,所述检测光源,位于待检测位置,用于对位于所述待检测位置的待检测电池膜提供补充光源;所述拍照设备,位于所述待检测位置的水平上方,用于采集补充光源后的所述待检测电池膜的外观图像;所述图像处理设备,与所述拍照设备连接,用于判断所述拍照设备采集的所述外观图像是否与预设图像标准匹配。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造