[实用新型]一种测试点结构及PCB板有效
申请号: | 201620923642.3 | 申请日: | 2016-08-23 |
公开(公告)号: | CN205946344U | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 徐海侠;何敏 | 申请(专利权)人: | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H05K1/02 | 分类号: | H05K1/02;G01R31/28 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司11112 | 代理人: | 刘悦晗,陈源 |
地址: | 230012 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型提供一种测试点结构及PCB板,该测试点结构,包括焊盘和阻焊层,所述阻焊层上设置有用于裸露所述焊盘的阻焊开窗。通过将阻焊开窗的直径小于或等于焊盘的最大宽度,使阻焊层的边缘与焊盘的边缘相接触,或者,阻焊层覆盖部分焊盘,这样,在保证焊盘用于与测试探针接触的有效区域不变的前提下,焊盘可依附于阻焊层,当测试探针与焊盘接触时,焊盘不会脱落,进而提高焊盘的牢固性和稳定性,保证印刷电路板上零件的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 测试 结构 pcb | ||
【主权项】:
一种测试点结构,包括焊盘和阻焊层,所述阻焊层上设置有用于裸露所述焊盘的阻焊开窗,其特征在于,所述阻焊开窗的直径小于或等于所述焊盘的最大宽度。
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