[实用新型]一种硅元件检测用高频信号电路有效

专利信息
申请号: 201620933444.5 申请日: 2016-08-25
公开(公告)号: CN205982474U 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 田红卫 申请(专利权)人: 田红卫
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 吉林市达利专利事务所22102 代理人: 陈传林
地址: 132021 吉林省吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 实用新型是一种硅元件检测用高频信号电路,其特征是,它包括高频信号产生电路与硅元件工作状态检测和报警电路电连接,高频信号产生电路包括电阻R1、R2、R3、R8、电容C1、C2、C3与时基电路U1电连接;硅元件工作状态检测和报警电路包括电阻R4、R5、R6、R7、二极管D1、D2、D3、发光二极管L1、L2、三极管T1、电容C4、C5与可控硅S1电连接。硅元件检测用高频信号电路通过向硅元件两端输入高频信号,使连接于硅元件上的供电变压器的供电线圈在不带电的状态下产生足够的感抗来极大地减少检测电路的工作电流,从而实现对硅元件工作状态的检测。具有电路简单,性能可靠,简便易行的优点。
搜索关键词: 一种 元件 检测 高频 信号 电路
【主权项】:
一种硅元件检测用高频信号电路,其特征是,它包括:高频信号产生电路与硅元件工作状态检测和报警电路电连接,所述高频信号产生电路包括电阻R1、R2、R3、R8、电容C1、C2、C3与时基电路U1电连接;所述硅元件工作状态检测和报警电路包括电阻R4、R5、R6、R7、二极管D1、D2、D3、发光二极管L1、L2、三极管T1、电容C4、C5与可控硅S1电连接。
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