[实用新型]一种对激光加工位置中激光光斑测量分析的装置有效
| 申请号： | 201620943567.7 | 申请日： | 2016-08-25 |
| 公开（公告）号： | CN206291960U | 公开（公告）日： | 2017-06-30 |
| 发明（设计）人： | 王建刚;王雪辉;刘剑辉 | 申请（专利权）人： | 武汉华工激光工程有限责任公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司11228 | 代理人： | 程殿军,张瑾 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种对激光加工位置中激光光斑测量分析的装置，包括齐焦机构，所述齐焦机构上设有激光对中装置，所述激光对中装置一侧接收射入的激光，另一侧设有光束采样镜片，光束采样镜片反射和透射接收到的激光，所述光束采样镜片反射激光的一侧依次设有可调光衰减器、固定光衰减器和探测器，所述探测器与一图像处理与分析装置连接，所述光束采样镜片透射激光的一侧设有齐焦面。克服了很多人为因素，提高了激光设备的调试精度和调试效率，并且使得设备调试结果参数化，进而可以对设备进行统一标准化调试，提高设备稳定性和一致性，且该装置易学易用，操作简单方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 加工 位置 光斑 测量 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种对激光加工位置中激光光斑测量分析的装置，包括齐焦机构，其特征在于，所述齐焦机构上设有激光对中装置，所述激光对中装置一侧接收射入的激光，另一侧设有光束采样镜片，光束采样镜片反射和透射接收到的激光，所述光束采样镜片反射激光的一侧依次设有可调光衰减器、固定光衰减器和探测器，所述探测器与一图像处理与分析装置连接，所述光束采样镜片透射激光的一侧设有齐焦面。
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