[实用新型]中心高测量装置

摘要

本实用新型提供一种中心高测量装置，包括工作台；基准块，其固设于工作台上；支撑座，其包括垂直相交的第一通孔及第二通孔；测量装置，其包括具有套筒及第一测量头的百分表，以及设置于平行于工作台的第一通孔内的测量部，还包括固连于支撑座一侧面的、可与待测产品外球面保持抵接接触以对待测产品形成侧阻挡的侧挡块。本实用新型的中心高测量装置，能够精确的测量待测产品的外球面中心高，使用方便，具有较好的使用效果。

主权项

一种中心高测量装置，用于对具有外球面待测产品的中心高的测量，其特征在于，包括：工作台（1）；基准块（2），所述基准块（2）固设于所述工作台（1）上，且所述基准块（2）的上表面用于搁置所述待测产品；支撑座（4），相对于所述基准块（2），所述支撑座（4）同样固设于所述工作台（1）上，且所述支撑座（4）包括垂直相交的第一通孔（32）及第二通孔（35）；测量装置，所述测量装置包括具有套筒及第一测量头（311）的百分表（31），以及设置于平行于所述工作台（1）的第一通孔（32）内的测量部，还包括固连于所述支撑座（4）一侧面的、可与所述待测产品外球面保持抵接接触以对所述待测产品形成侧阻挡的侧挡块（34）；所述测量部包括可于第一通孔（32）内转动、并与所述第一测量头（311）相抵接的测量柄（331），以及与所述测量柄（331）相连接、并经由销轴（333）转动设于所述支撑座（4）上的测量块（332），所述测量块（332）上设置有两个轴间距为两倍中心高的第二测量头（334），两个所述第二测量头（334）对称于所述销轴（333）布置，且所述销轴（333）中心至所述基准块（2）上表面的距离等于中心高，所述百分表（31）的套筒经由支持架固定于第二通孔（35）内。