[实用新型]PCB半塞孔测试架有效
| 申请号： | 201620968515.5 | 申请日： | 2016-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN205958702U | 公开（公告）日： | 2017-02-15 |
| 发明（设计）人： | 王德标 | 申请（专利权）人： | 昆山市华新电路板有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 昆山四方专利事务所32212 | 代理人： | 盛建德 |
| 地址： | 215300 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种PCB半塞孔测试架，包括上模组件和下模组件，所述上模组件设于下模组件的上方，所述上模组件下表面设有多个探针体所述每个探针体末端连接不少于两根的探针头。由于一个探针体上设有多个针头，所以多个针头能够同时接触到半塞孔的孔壁，提高了探针头触碰到孔壁镀铜处的机率，减少了测试过程中的误判。本实用新型结构简单、操作方便，可广泛应用于PCB板半塞孔的测试。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 半塞孔 测试 | ||
【主权项】：
一种PCB半塞孔测试架，包括上模组件和下模组件，所述上模组件设于下模组件的上方，所述上模组件下表面设有多个探针体，其特征在于：所述每个探针体末端连接不少于两根的探针头。
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