[实用新型]一种DSP芯片批量检测装置

摘要

本实用新型公开了一种DSP芯片批量检测装置，涉及DSP芯片检测技术领域。该DSP芯片批量检测装置，包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器，所述内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接，并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接，所述JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接。该DSP芯片批量检测装置，解决了现在的DSP芯片检测设备使用都需要专业的技术人员进行操作的情况，普通的工人也可以进行检测处理，降低了经济成本，更好的适合工厂使用，更好的方便了使用者的使用，可以快速的知晓DSP芯片是否合格，更加准确的得知DSP芯片的情况。

主权项

一种DSP芯片批量检测装置，包括用于进行检测的内存检测模块、JTAG接口和电压传感器，其特征在于：所述内存检测模块、JTAG接口和电压传感器的第一输出端均与中央控制器的输入端连接，并且内存检测模块的第二输出端与第一数据比较器的输入端连接，所述JTAG接口的第二输出端与第二数据比较器的输入端连接，并且电压传感器的第二输出端与第三数据比较器的输入端连接，所述第一数据比较器的第一输出端通过第一反馈模块与微处理器的输入端连接，并且第一数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接，所述第二数据比较器的第一输出端通过第二反馈模块与微处理器的输入端连接，并且第二数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接，所述第三数据比较器的第一输出端通过第三反馈模块与微处理器的输入端连接，并且第三数据比较器的第二输出端与中央控制器的输入端连接，所述微处理器的输出端分别与指示灯和蜂鸣器的输入端连接。