[实用新型]MOS晶体管有效
申请号: | 201621030264.2 | 申请日: | 2016-08-31 |
公开(公告)号: | CN206003781U | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 鸿之微科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/423 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司31266 | 代理人: | 居瓅;李夫玲 |
地址: | 201206 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及半导体器件,公开了一种MOS晶体管。在本实用新型的MOS晶体管中,在源极与漏极之间的沟道区两侧表面上设置两个栅极,在沟道长度较小时仍然能够保持非常高的开关态电流比,提高MOS晶体管关闭状态特性,降低静态功耗。 | ||
搜索关键词: | mos 晶体管 | ||
【主权项】:
一种MOS晶体管,其特征在于,所述MOS晶体管包括源极(1)、漏极(3)、沟道区(2)、第一栅极(4)和第二栅极(5);在位于所述源极(1)与所述漏极(3)之间的沟道区(2)的两侧表面上分别设置所述第一栅极(4)和所述第二栅极(5),所述沟道区(2)为过渡金属硫族化合物。
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