[实用新型]一种IC测试装置

摘要

本实用新型公开了一种IC测试装置，包括微控制器；与待测试芯片连接的Socket座；分别与微控制器连接的USB接口、UART接口、显示屏、SD卡、EEPROM、Flash存储器、SRAM存储器、温度芯片、测试启动模式选择模块、纽扣电池以及类型编码模块；输入端与微控制器连接、输出端与Socket座连接的程控电源产生电路、程控信号产生电路以及时钟产生模块；输入端与Socket座连接、输出端与微控制器连接的分频器；输入端与总模拟开关的一端连接、输出端与微控制器连接的第一模数转换器、比较/捕获通道以及GPIO模块，总模拟开关的另一端与Socket座连接；第一继电器；第二模数转换器。该IC测试装置选用一些常规的元器件即能实现对集成芯片的测试，结构简单且成本低。

主权项

一种IC测试装置，其特征在于，包括微控制器；与待测试芯片连接、用于将所述待测试芯片与所述测试装置连接起来的Socket座；分别与所述微控制器连接的USB接口、UART接口、显示屏、SD卡、EEPROM、Flash存储器、SRAM存储器、温度芯片、测试启动模式选择模块、纽扣电池以及类型编码模块；其中，所述USB接口用于在所述测试装置以及PC机之间进行数据传输；所述UART接口用于将所述测试装置调试过程中的调试信息传输至所述PC机；所述显示屏用于对所述调试信息以及所述测试装置在测试开始、测试中以及测试结束的测试信息进行显示；所述SD卡用于存储所述测试装置在测试过程中的所有测试数据；所述EEPROM用于存储所述待测试芯片的ID号；所述Flash存储器用于存储所述测试装置的校准数据和所述待测试芯片的测试程序；所述SRAM存储器用于存储SNR数据和DFT数据，并进行FFT运算；所述温度芯片用于校准所述待测试芯片中的温度传感器以及记录当前的测试环境温度；所述测试启动模式选择模块用于选择当前所述测试装置需要使用的测试模式；所述纽扣电池用于对微控制器中的RTC供电；所述类型编码模块用于区别所述测试装置和所述待测试芯片的种类；输入端与所述微控制器连接、输出端与所述Socket座连接的程控电源产生电路、程控信号产生电路以及时钟产生模块；输入端与所述Socket座连接、输出端与所述微控制器连接的分频器；其中，所述程控电源产生电路用于为所述待测试芯片提供可调节的电源电压，并且测量功耗；所述程控信号产生电路用于产生待测试芯片所需的幅值、频率、相位以及偏置均可调节的测试信号；所述时钟产生模块用于生成期望的时钟信号并输出至所述待测试芯片；所述分频器用于对所述待测试芯片的高频信号输出分频测量；输入端与总模拟开关的一端连接、输出端与所述微控制器连接的第一模数转换器、比较/捕获通道以及GPIO模块，所述总模拟开关的另一端与所述Socket座连接；其中，所述第一模数转换器用来测量所述待测试芯片的模拟量；所述比较/捕获通道用于通过所述总模拟开关的通断实现所述待测试芯片的需要捕获和比较的引脚与所述微控制器的连接；所述GPIO模块用于对所述待测试芯片的GPIO功能进行测试；控制端与所述微控制器连接、第一端与负载连接、第二端与所述Socket座连接、用于通过所述微控制器控制自身的通断来实现控制所述待测试芯片中的线性稳压源是否带载的第一继电器；输入端与所述第一继电器的第二端连接、输出端与所述微控制器连接、用于测量所述线性稳压源在带载与空载下的电压值的第二模数转换器。