[实用新型]一种在线测试光学指标的装置有效

专利信息
申请号: 201621054285.8 申请日: 2016-09-13
公开(公告)号: CN206056924U 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 肖琳;叶航 申请(专利权)人: 纳琳威纳米科技(上海)有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京力量专利代理事务所(特殊普通合伙)11504 代理人: 宋林清
地址: 200433 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种在线测试光学指标的装置,包括主支架、升降柱、升降支架、发射光源头、接收光源头、光学样品、光学分析处理器、存储器以及警示器。本实用新型通过升降柱控制升降支架的高度,以使发射光源头以及接收光源头之间可容纳不同尺寸的光学样品进行光学测试,同时,发射光源头以及接收光源头可在导轨上水平移动,可对同一光学样品的不同区域进行光学测试,具有结构合理、操作方便、可靠性高等优点;此外,还可通过光学分析处理器用于对光学指标数据进行分析处理,并通过存储器对光学指标数据进行存储,以便查阅;本实用新型结构合理、通用性强、操作便捷,适用于对大部分光学样品进行光学指标测试。
搜索关键词: 一种 在线 测试 光学 指标 装置
【主权项】:
一种在线测试光学指标的装置,其特征在于,包括主支架、升降柱、升降支架、发射光源头、接收光源头、光学样品、光学分析处理器、存储器以及警示器,所述主支架通过升降柱连接升降支架,以使升降支架做垂直方向上的升降运动,所述发射光源头通过导轨可移动的安装在升降支架上,所述接收光源头通过导轨可移动的安装在主支架上,所述发射光源头以及接收光源头相对设置,以对光学样品进行光学指标测试,所述光学分析处理器、存储器以及警示器安装在升降支架上,所述光学分析处理器用于对光学指标数据进行分析处理,所述存储器以及警示器均与光学分析处理器连接,所述存储器用于存储光学样品的光学指标数据,当光学样品的光学指标数据超出预设阈值时,所述光学分析处理器触发所述警示器开启。
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