[实用新型]基于光学定位的软排线对位调整测试平台有效

专利信息
申请号: 201621071761.7 申请日: 2016-09-22
公开(公告)号: CN206292312U 公开(公告)日: 2017-06-30
发明(设计)人: 杨小敏 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司44214 代理人: 王贤义
地址: 519180 广东省珠海市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种基于光学定位的软排线对位调整测试平台,旨在提供一种测试精度高和测试效率高的基于光学定位的软排线对位调整测试平台。本实用新型包括测试箱,所述测试箱上安装有平台板,所述平台板上安装有若干个测试平台机构,所述测试平台机构包括产品定位夹具、上压头自对准模块、B2B模块、下压头调整机构和光学定位模组,所述产品定位夹具安装在所述平台板,所述上压头自对准模块安装在所述平台板上,所述上压头自对准模块与B2B模块相连接,所述下压头调整机构安装在所述平台板下端面且位于所述产品定位夹具下方,所述下压头调整机构和所述光学定位模组相连接。本实用新型应用于软线排功能测试的技术领域。
搜索关键词: 基于 光学 定位 排线 对位 调整 测试 平台
【主权项】:
一种基于光学定位的软排线对位调整测试平台,其特征在于:它包括测试箱(1),所述测试箱(1)上安装有平台板(2),所述平台板(2)上安装有若干个测试平台机构(3),所述测试平台机构(3)包括产品定位夹具(4)、上压头自对准模块(5)、B2B模块(6)、下压头调整机构(7)和光学定位模组(8),所述产品定位夹具(4)安装在所述平台板(2),所述上压头自对准模块(5)安装在所述平台板(2)上,所述上压头自对准模块(5)与B2B模块(6)相连接,所述下压头调整机构(7)安装在所述平台板(2)下端面且位于所述产品定位夹具(4)下方,所述下压头调整机构(7)和所述光学定位模组(8)相连接。
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