[实用新型]一种多参数几何量量具综合检定仪有效

专利信息
申请号: 201621073186.4 申请日: 2016-09-22
公开(公告)号: CN206095181U 公开(公告)日: 2017-04-12
发明(设计)人: 秦敏;易龙涛;韩悦;张爽;刘志国 申请(专利权)人: 北京师范大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 北京金咨知识产权代理有限公司11612 代理人: 严业福,吕晓阳
地址: 100875 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供了一种多参数几何量量具综合检定仪,其包括基座(3);立柱(8),其竖直置于基座(3)上;导轨(1),其固定于立柱(8)一侧面;锁止滑块(5),其安装在导轨(1)上,可相对于导轨上下滑动;位移传感器(2),其安装于锁止滑块(5)上,其中锁止滑块(5)用于锁定位移传感器(2)与导轨(1)的相对位置;真空吸附夹具(7),其吸附在立柱(8)另一侧面,且能够相对于立柱(8)上下移动;以及电感测微头(6),其安装在真空吸附夹具(7)上。与现有功能单一的几何量量具检定仪器相比,利用本实用新型可在一台仪器上完成对多种几何量量具的计量工作,且计量操作过程简单,工作效率高。
搜索关键词: 一种 参数 几何 量具 综合 检定
【主权项】:
一种多参数几何量量具综合检定仪,其特征在于,该综合检定仪包括:基座(3);立柱(8),其竖直置于所述基座(3)上;导轨(1),其固定于所述立柱(8)一侧面;锁止滑块(5),其安装在所述导轨(1)上,可相对于所述导轨上下滑动;位移传感器(2),其安装于所述锁止滑块(5)上,其中所述锁止滑块(5)用于锁定所述位移传感器(2)与所述导轨(1)的相对位置;真空吸附夹具(7),其吸附在所述立柱(8)另一侧面,且能够相对于所述立柱(8)上下移动;以及电感测微头(6),其安装在所述真空吸附夹具(7)上。
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