[实用新型]一种地质剖面测量装置有效

专利信息
申请号: 201621089493.1 申请日: 2016-09-28
公开(公告)号: CN206037995U 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 王光栋;种衍飞;冯英明;李凯;李建 申请(专利权)人: 冯英明
主分类号: G01C7/02 分类号: G01C7/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 277200 山东省枣*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型涉及一种地质剖面测量装置,包括测量支架,所述测量支架设有上支架与下支架,且下支架穿设于上支架内腔,所述上支架两侧从上到下均设有若干卡孔,所述下支架两侧均设有弹簧,且所述弹簧一侧连接卡块,所述下支架底部固定设有带尖铁杵,所述上支架中部设有罗盘,所述上支架顶部设有支撑板,所述支撑板顶部设有可调三脚架,所述可调三脚架顶部设有固定座,所述固定座顶部设有手持激光红外线测距仪,所述固定座由底板与两个侧板组成,所述侧板相对应位置分别设有弹片,所述弹片一侧与侧板固定连接,所述弹片另一侧与手持激光红外线测距仪按压连接,测量精确度高,而且能够提高工作效率,降低劳动强度,实用性强。
搜索关键词: 一种 地质 剖面 测量 装置
【主权项】:
一种地质剖面测量装置,设置有测量支架、支撑板,其特征在于,所述测量支架设有上支架与下支架,下支架穿设于上支架内腔;所述支撑板顶部设有可调三脚架;所述可调三脚架顶部设有固定座;所述固定座顶部设有手持激光红外线测距仪。
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