[实用新型]芯片测试预调整电路有效
| 申请号： | 201621112410.6 | 申请日： | 2016-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN206178094U | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张巍;薛雷;吴海强 | 申请（专利权）人： | 珠海中慧微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 广东朗乾律师事务所44291 | 代理人： | 杨焕军 |
| 地址： | 519085 广东省珠*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 芯片测试预调整电路，包括：状态机电路，用于控制芯片进入测试模式及预调整模式，并在芯片完成预调整后退出预调整模式；预调整信号产生电路，用于根据外部指令产生相应的预调整控制信号；预调整电路，用于通过匹配不同的预调整控制信号调整芯片内部的电阻电容值，以改变芯片的时钟和基准电压值。本实用新型的芯片测试预调整电路具有快速稳定、可靠、面积小的特点，并可降低测试难度和测试成本，实现了在芯片面积不增加的基础上快速可靠的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 调整 电路 | ||
【主权项】：
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