[实用新型]一种用于电子设备测试的测试装置有效
| 申请号： | 201621133887.2 | 申请日： | 2016-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN206248738U | 公开（公告）日： | 2017-06-13 |
| 发明（设计）人： | 徐文飞;王东永;潘伟仁;王勤生;陶利 | 申请（专利权）人： | 苏州润弘安创自动化科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 苏州市方略专利代理事务所(普通合伙)32267 | 代理人： | 马广旭 |
| 地址： | 215311 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于电子设备测试的测试装置，包括一种用于电子设备测试的测试装置，包括压板、探针上模、探针下模和探针，所述的压板和探针上模之间设有浮动块，探针下模设于探针上模的下方，所述的探针设于探针上模和探针下模之间，且，其两端分别穿过探针上模和探针下模的探针穿孔中，所述的压板、探针上模、探针下模三者之间通过滑动销钉连接，且，所述的探针上模和探针下模相互配合。本实用新型中所述的一种用于电子设备测试的测试装置，其通过在压板和探针上模之间增加了浮动块，能够有效的保护测试探针在不工作的情况下，避免因各种因素形成对测试探针的触碰，造成测试探针的弯曲、断裂、损坏，从而对探针起到了很好的保护作用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子设备 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种用于电子设备测试的测试装置，其特征在于：包括：压板（1）、探针上模（2）、探针下模（3）和探针（4），所述的压板（1）和探针上模（2）之间设有浮动块（5），所述的探针下模（3）设于探针上模（2）的下方，所述的探针（4）设于探针上模（2）和探针下模（3）之间，且，其两端分别穿过探针上模（2）和探针下模（3）的探针穿孔中，所述的压板（1）、探针上模（2）、探针下模（3）三者之间通过滑动销钉（6）连接，且，所述的探针上模（2）和探针下模（3）相互配合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州润弘安创自动化科技有限公司，未经苏州润弘安创自动化科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201621133887.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
