[实用新型]一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱有效
| 申请号： | 201621138117.7 | 申请日： | 2016-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN206096193U | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李兴冀;马国亮;刘超铭;杨剑群;吕钢 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 | 代理人： | 岳泉清 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，属于电性能测试领域，解决了现有的宇航级电子元器件的空间环境效应研究的测试结果不准确，周期长和成本高的问题。所述环境箱密封防震隔热设置，在环境箱的上表面上设置有辐照窗口，在环境箱的内部设置有升降平台，在所述升降平台上设置有控温平台，在所述控温平台上设置有测试卡具，所述控温平台用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理，所述测试卡具用于将待测的电子元器件固定在控温平台上，被固定的电子元器件与辐照窗口上下相对，在所述环境箱的表面上还设置有通气孔和真空插头，所述被固定的电子元器件与真空插头通过导线相连。本新型适用于宇航级电子元器件的空间环境效应研究。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 电子元器件 性能 原位 测试 环境 | ||
【主权项】：
一种用于电子元器件电性能原位测试的环境箱，其特征在于，所述环境箱防震隔热设置；在所述环境箱的上表面上设置有辐照窗口(1)；在所述环境箱的内部设置有升降平台(2)，在所述升降平台(2)上设置有控温平台(3)，在所述控温平台(3)上设置有测试卡具(4)；所述控温平台(3)用于对待测的电子元器件进行冷却、加热或冷热循环处理；所述测试卡具(4)用于将待测的电子元器件固定在控温平台(3)上；被固定的电子元器件与辐照窗口(1)上下相对；在所述环境箱的表面上还设置有通气孔(5)和真空插头(6)；所述被固定的电子元器件与真空插头(6)通过导线(7)相连。
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