[实用新型]一种晶元自动测试机有效
申请号: | 201621157204.7 | 申请日: | 2016-10-25 |
公开(公告)号: | CN206349335U | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 李雅媚 | 申请(专利权)人: | 深圳市昱燊科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67;G01N21/95 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种晶元自动测试机,包括机架、下料台、上料台、吸盘套件、横移电机装配体和测试平台,所述机架采用多根型材拼接制成,机架的台面上固设有横移电机装配体,横移电机装配体的两侧分别设有下料台和上料台,横移电机装配体上设有吸盘套件,机架的一侧设有测试平台,本实用新型的有益效果是可以实现对待测晶元的自动抓取、检测和分类,减少人员误判率,精确可达百分之百,极大地提升了生产效率,保证产品质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 自动 测试 | ||
【主权项】:
一种晶元自动测试机,包括机架、下料台、上料台、吸盘套件、横移电机装配体和测试平台,其特征在于,所述机架采用多根型材拼接制成,机架的台面上固设有横移电机装配体,横移电机装配体的两侧分别设有下料台和上料台,横移电机装配体上设有吸盘套件,机架的一侧设有测试平台;所述测试平台包括上测试台板、底板、测试右侧板、测试左侧板、测试安装板和真空平台装配体,所述上测试台板、测试右侧板和测试左侧板拼接成两个置于底板上的框体,每个所述框体内均固设有真空平台装配,真空平台装配上设有PCB板,上测试台板的两侧均通过升降立板和升降中立板与测试右侧板和测试左侧板滑动连接,上测试台板上通过螺钉固设有测试安装板,测试右侧板和测试左侧板的外侧均设有调节块和挡块;所述吸盘套件包括吸盘背板、托架、支撑立柱和滑轨,所述托架内设有多根支撑立柱,托架的一侧设有背板,背板上固设多个通过卡套固定的吸盘座,吸盘座上设有吸嘴,托架的表面设有仪表支架和电缆托架,托架上设有紧贴设置的下压板和同步压板;所述吸盘套件滑动连接在滑轨上,滑轨底部设有定位块。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市昱燊科技有限公司,未经深圳市昱燊科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201621157204.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种具有调节功能的电子封装模具
- 下一篇:用于处理腔室的适配器和灯组件
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造