[实用新型]生长在GaAs衬底上n‑InGaAs薄膜有效
申请号: | 201621186039.8 | 申请日: | 2016-10-28 |
公开(公告)号: | CN206116416U | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 李国强;张曙光;王凯诚 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | H01L31/0304 | 分类号: | H01L31/0304 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司44245 | 代理人: | 陈文姬 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了生长在GaAs衬底上n‑InGaAs薄膜,由下至上依次包括GaAs衬底和n个δ掺杂区;所述δ掺杂区由下至上包括InGaAs本征薄膜和δ掺杂InGaAs薄膜;δ掺杂InGaAs薄膜为Si掺杂的InGaAs薄膜;所述n≥1。本实用新型的n‑InGaAs薄膜的Si掺杂剂在薄膜中呈现脉冲式分布,有效地抑制Si的自补偿效应,提高掺杂效率、电子迁移率及晶体质量。 | ||
搜索关键词: | 生长 gaas 衬底 ingaas 薄膜 | ||
【主权项】:
生长在GaAs衬底上n‑InGaAs薄膜,其特征在于,由下至上依次包括GaAs衬底和n个δ掺杂区;所述δ掺杂区由下至上包括InGaAs本征薄膜和δ掺杂InGaAs薄膜;δ掺杂InGaAs薄膜为Si掺杂的InGaAs薄膜;所述n≥1。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的