[实用新型]金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置有效
| 申请号： | 201621192625.3 | 申请日： | 2016-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN206258536U | 公开（公告）日： | 2017-06-16 |
| 发明（设计）人： | 金鑫 | 申请（专利权）人： | 合肥圣达电子科技实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 合肥天明专利事务所(普通合伙)34115 | 代理人： | 娄岳,金凯 |
| 地址： | 230088 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，涉及短路测试技术领域，包括载体盒，所述载体盒内设有PCB电路板，所述PCB电路板上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路。该短路快速测试装置根据引线数目设置了主体电路结构，通过单次测试即可判断金属封装外壳是否合格，提高了金属封装外壳短路测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 金属 封装 外壳 引线 之间 短路 快速 测试 装置 | ||
【主权项】：
金属封装外壳引线与引线之间短路快速测试装置，其特征在于:包括载体盒(1)，所述载体盒(1)内设有PCB电路板(2)，所述PCB电路板(2)上设有主体电路结构，所述主体电路结构包括依次电连接的用于和金属封装外壳左侧引线连接的左侧引线测试电路(3)、用于和金属封装外壳右侧引线连接的右侧引线测试电路(4)，以及用于和金属封装外壳壳体及右侧引线连接的外壳测试电路(5)。
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