[实用新型]测量装置有效

专利信息
申请号: 201621197874.1 申请日: 2016-11-04
公开(公告)号: CN206160856U 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 张志波;白曦东;张晶 申请(专利权)人: 北京博维恒信科技发展有限公司
主分类号: G01B3/20 分类号: G01B3/20;G01B5/02;G01B5/08;G01B5/12;G01B5/18
代理公司: 北京汇思诚业知识产权代理有限公司11444 代理人: 王刚,龚敏
地址: 100085 北京市昌平*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 本申请涉及测量器具技术领域,尤其涉及一种测量装置,其包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。该测量装置可以适用于被测量的大小大于测量装置的长度的情况,因此其所适用的范围更广。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
一种测量装置,其特征在于,包括第一本体、第二本体、基准测量部、第一测量部和第二测量部;所述第一测量部和所述第二测量部均安装于所述第一本体上,且两者之间的距离为预设值;所述第二本体伸缩连接于所述第一本体上,所述基准测量部安装于所述第二本体上,所述第一测量部的测量位置位于所述基准测量部的测量位置与所述第二测量部的测量位置之间,所述第二本体上具有测量刻度;在所述第二本体的伸缩行程上,所述测量装置所测得的值为所述基准测量部与所述第一测量部之间的距离,或者所述距离与所述预设值之和。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京博维恒信科技发展有限公司,未经北京博维恒信科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201621197874.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top