[实用新型]一种适用于原子力显微镜的样品制备装置有效

专利信息
申请号: 201621225459.2 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN206177989U 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 张肖宁;杨震;虞将苗 申请(专利权)人: 广州肖宁道路工程技术研究事务所有限公司
主分类号: G01Q30/20 分类号: G01Q30/20
代理公司: 北京高沃律师事务所11569 代理人: 王加贵
地址: 510000 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种适用于原子力显微镜的样品制备装置,该装置包括:基底、样品存储装置。所述基底设置在所述样品存储装置下,所述样品存储装置置于所述基底上,所述样品存储装置为空心圆柱体,所述空心圆柱体侧面高度相同,所述基底和所述样品存储装置依靠转移至所述样品存储装置中的沥青粘附性相互连接。采用本装置可以控制所有样品膜厚一致,消除膜厚对试验结果的影响,并保证样品表面光滑平整。
搜索关键词: 一种 适用于 原子 显微镜 样品 制备 装置
【主权项】:
一种适用于原子力显微镜的样品制备装置,其特征在于,包括基底,样品存储装置;所述基底设置在所述样品存储装置下,所述样品存储装置置于所述基底上,所述样品存储装置为空心圆柱体,所述空心圆柱体侧面高度相同,所述基底和所述样品存储装置依靠转移至所述样品存储装置中的沥青粘附性相互连接。
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