[实用新型]一种测试凹槽可调式SOT26测试夹有效

专利信息
申请号: 201621243585.0 申请日: 2016-11-16
公开(公告)号: CN206194699U 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 李国祥;吴靖宇;叶金锋;蒋节文;孙超 申请(专利权)人: 长电科技(滁州)有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66
代理公司: 南京知识律师事务所32207 代理人: 蒋海军
地址: 239000 安徽省滁州市经济*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型公开了一种测试凹槽可调式SOT26测试夹,属于芯片测试技术领域。本实用新型的测试凹槽可调式SOT26测试夹,包括固定夹和活动夹;固定夹和活动夹通过相互配合的旋转装置连接,并通过活动夹相对于固定夹的旋转实现两者之间夹口的宽度调节,实现了测试夹夹口可根据SOT26的尺寸进行适应性调节。本实用新型测试夹的应用,通过SOT26的压入→测试→顶出的步骤,利用弹簧控制活动夹的开口及闭合,以弥补SOT26尺寸大小引起的左右偏移从而提高一次性测试的良率,同时加装了顶杆;活动夹和顶杆的协同作用,起到了测试时对SOT26的精确定位及防叠料和提高测试良率的目的,相当于提高了产能,达到了一举双得的效果。
搜索关键词: 一种 测试 凹槽 调式 sot26
【主权项】:
一种测试凹槽可调式SOT26测试夹,包括固定夹(1),其特征在于,还包括活动夹(2);所述固定夹(1)和活动夹(2)通过相互配合的旋转装置连接,并通过活动夹(2)相对于固定夹(1)的旋转实现两者之间夹口(3)的宽度调节。
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