[实用新型]一种非接触式表面平面度光学测量设备有效
申请号: | 201621255882.7 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN206347976U | 公开(公告)日: | 2017-07-21 |
发明(设计)人: | 孙鹏;郭明森;蔡敏明;杜荣钦;尹建刚;高云峰 | 申请(专利权)人: | 大族激光科技产业集团股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 深圳市世联合知识产权代理有限公司44385 | 代理人: | 汪琳琳 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开一种非接触式表面平面度光学测量设备,包括机柜、上料模组、CCD影像系统、激光测量模组、XYZ轴下料模组和四轴机械手,机柜上安装有上料模组、CCD影像系统、激光测量模组、XYZ轴下料模组和四轴机械手;待测工件放置在所述上料模组上,所述CCD影像系统用于对待测工件进行拍照定位,得到其精确位置;所述四轴机械手根据所述位置进行移动并抓起所述待测工件,校正姿态后将其放置到激光测量模组上;所述激光测量模组能够带动待测工件转动,并实现对待测工件的上下面进行取点测量;所述XYZ轴下料模组用于对测量完成后的待测工件进行下料。本实用新型的结构简单、功能可靠也易于实现,并能可靠地完成产品平面度的测量,其测量效率和测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 一种 接触 表面 平面 光学 测量 设备 | ||
【主权项】:
一种非接触式表面平面度光学测量设备,其特征在于:包括机柜(10)、上料模组(20)、CCD影像系统(30)、激光测量模组(40)、XYZ轴下料模组(50)和四轴机械手(60),所述机柜(10)上安装有上料模组(20)、CCD影像系统(30)、激光测量模组(40)、XYZ轴下料模组(50)和四轴机械手(60);待测工件放置在所述上料模组(20)上,所述CCD影像系统(30)用于对待测工件进行拍照定位,得到其精确位置;所述四轴机械手(60)根据所述位置进行移动并抓起所述待测工件,校正姿态后将其放置到激光测量模组(40)上;所述激光测量模组(40)能够带动待测工件转动,并实现对待测工件的上下面进行取点测量;所述XYZ轴下料模组(50)用于对测量完成后的待测工件进行下料。
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