[实用新型]一种外花键跨棒距测量装置

摘要

本实用新型涉及一种外花键跨棒距测量装置，解决了现有技术中花键跨棒距测量困难的不足。本实用新型提供的一种外花键跨棒距测量装置，底座上设有支架，在支架上设有花键套环，花键套环上设有测量仪，在底座上还设有校正花键，校正花键用于对测量仪进行校正，其主要目的在于，测量前采用校正花键对测量仪清零，测量时，待测花键插入花键套环内以后，测量杆与待测花键接触，测量仪即可测得数据，该数据是相对于校正花键的数据，将被测花键测得的尺寸与校正花键的尺寸对比，即可方便地得知待测花键的尺寸是否符合要求，该测量为相对测量。采用这种方式对外花键进行测量，测量操作十分方便，大大提高了外花键的测量效率。

主权项

一种外花键跨棒距测量装置，其特征在于：包括底座(1)，所述底座(1)上设有底脚(2)，所述底脚(2)通过螺纹连接在底座(1)上，所述底座(1)上设有花键套环(3)，所述花键套环(3)通过支架(4)固定在底座(1)上，所述底座(1)包括第一部分(5)和第二部分(6)，所述第一部分(5)与第二部分(6)装配在一起后，第一部分(5)与第二部分(6)之间形成容纳支架(4)的容纳槽(7)，所述支架(4)通过连接销(8)固定在底座(1)上，所述第一部分(5)、第二部分(6)上均开设有使连接销(8)可以穿过的通孔，所述连接销(8)的两端均设有将支架(4)锁紧在第一部分(5)与第二部分(6)之间的锁紧螺母，所述花键套环(3)上设有内花键(9)，所述内花键(9)上设有厚度不小于1毫米的耐磨层，所述花键套环(3)上还设有测量仪(10)，所述测量仪(10)包括测量杆，所述花键套环(3)上开设有使测量杆可以穿过的测量孔，所述测量孔的轴线与花键套环(3)的轴线垂直，所述底座(1)上还设有校正测量仪(10)的校正花键(11)，所述底座(1)上设有固定校正花键(11)的固定套(12)，所述固定套(12)内设有与校正花键(11)配合的校正槽(13)。