[实用新型]一种诊断测试判读装置用光路结构有效

专利信息
申请号: 201621285557.5 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN206281861U 公开(公告)日: 2017-06-27
发明(设计)人: 郁佳;刘志锋 申请(专利权)人: 贝知(上海)信息科技有限公司
主分类号: G01N33/558 分类号: G01N33/558;G01J3/46
代理公司: 上海光华专利事务所31219 代理人: 严晨,许亦琳
地址: 201318 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及检测仪器领域,并提供一种诊断测试判读装置用光路结构,所述光路结构包括供入射光通过的入射光通道和供反射光通过的反射光通道,所述入射光通道和反射光通道构成V型光路通道,所述入射光通道包括用于发射检测光束的检测光源,所述检测光源包括用于发射检测线检测光束的检测线检测光源、用于发射质控线检测光束的质控线检测光源,所述反射光通道包括用于接收和检测经检测线反射后的检测线检测光束、经质控线反射后的质控线检测光束的检测装置。本实用新型提供的诊断测试判读装置用光路结构结构简单、成本低廉,能够切实配合检测线、质控线和颜色批次识别信息的结构,独立、准确地给出检测线、质控线和颜色批次识别信息的显色结果。
搜索关键词: 一种 诊断 测试 判读 装置 用光 结构
【主权项】:
一种诊断测试判读装置用光路结构,其特征在于,所述光路结构包括供入射光通过的入射光通道(1)和供反射光通过的反射光通道(2),所述入射光通道(1)和反射光通道(2)构成V型光路通道,所述入射光通道(1)包括用于发射检测光束的检测光源(3),所述检测光源(3)包括用于发射检测线检测光束的检测线检测光源(14)和用于发射质控线检测光束的质控线检测光源(15),所述反射光通道(2)包括检测装置(4),所述检测装置(4)包括用于接收和检测经检测线反射后的检测线检测光束和经质控线反射后的质控线检测光束的测试线检测单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贝知(上海)信息科技有限公司,未经贝知(上海)信息科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201621285557.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top