[实用新型]一种用于芯片测试的安全电路有效
| 申请号： | 201621306544.1 | 申请日： | 2016-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN206353192U | 公开（公告）日： | 2017-07-25 |
| 发明（设计）人： | 乔瑛;张章;丁义民;董宇;侯书珺;郭耀华;王清智;许秋林 | 申请（专利权）人： | 北京同方微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G11C29/12 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种用于芯片测试的安全电路。所述安全电路包括内部逻辑电路和熔丝电路，内部逻辑电路连接熔丝电路，熔丝电路为一弱上拉电阻，熔丝电路的输出端连接到外部晶圆划片槽的地线；芯片测试时，熔丝电路输出的电熔丝信号送到内部逻辑电路，内部逻辑电路根据电熔丝信号的电平进行判断，如果电熔丝信号为低电平，则允许芯片进入测试模式；如果电熔丝信号为高电平，则不允许芯片进入测试模式。本实用新型由于采用了弱上拉电阻的熔丝电路进行芯片测试，使得芯片出厂测试时能进入测试模式，芯片测试完毕后交付给用户前，能够有效封锁测试模式，以确保用户的NVM中数据不被误改，提高用户数据安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 测试 安全 电路 | ||
【主权项】：
一种用于芯片测试的安全电路，其特征在于，所述安全电路包括内部逻辑电路和熔丝电路，内部逻辑电路连接熔丝电路，熔丝电路为一弱上拉电阻，熔丝电路的输出端连接到外部晶圆划片槽的地线；芯片测试时，熔丝电路输出的电熔丝信号送到内部逻辑电路，内部逻辑电路根据电熔丝信号的电平进行判断，如果电熔丝信号为低电平，则允许芯片进入测试模式；如果电熔丝信号为高电平，则不允许芯片进入测试模式。
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