[实用新型]具有低导通压降的绝缘栅双极型晶体管器件有效
申请号: | 201621309158.8 | 申请日: | 2016-12-01 |
公开(公告)号: | CN206194743U | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | 朱袁正;张硕 | 申请(专利权)人: | 无锡新洁能股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L21/331;H01L29/06 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)32104 | 代理人: | 曹祖良 |
地址: | 214131 江苏省无锡市滨湖区高浪东路999号*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种具有低导通压降的绝缘栅双极型晶体管器件,其包括位于半导体基板上的有源区以及终端保护区,在所述绝缘栅双极型晶体管器件的截面上,所述有源区的元胞采用采用沟槽结构,所述有源元胞包括活性元胞以及非活性元胞;在活性元胞沟槽的槽底以及非活性元胞沟槽的槽底均设有第二导电类型浮置区,活性元胞沟槽下方的第二导电类型浮置区包覆活性元胞沟槽的槽底,非活性元胞沟槽下方的第二导电类型浮置区包覆非活性元胞沟槽的槽底。本实用新型能够在保证耐压的情况下,具有极低的导通压降和极快的关断速度,且具有较低的电流电压振荡,大大提高工作的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 具有 低导通压降 绝缘 栅双极型 晶体管 器件 | ||
【主权项】:
一种具有低导通压降的的绝缘栅双极型晶体管器件,在所述绝缘栅双极型晶体管器件的俯视平面上,包括位于半导体基板上的有源区以及终端保护区,所述有源区位于半导体基板的中心区,终端保护区位于有源区的外圈,并环绕包围所述有源区;在所述绝缘栅双极型晶体管器件的截面上,半导体基板具有第一主面以及与第一主面对应的第二主面,所述第一主面与第二主面间包括第一导电类型漂移区;其特征是:在所述绝缘栅双极型晶体管器件的截面上,所述有源区的元胞采用沟槽结构,所述有源区元胞包括活性元胞以及非活性元胞;活性元胞的沟槽内壁以及底壁生长有绝缘栅氧化层,在所述生长有绝缘栅氧化层的活性元胞沟槽内填充有活性元胞导电多晶硅,活性元胞沟槽的槽口由第一绝缘介质层覆盖;相邻活性元胞沟槽间设有第二导电类型体区,并在所述第二导电类型体区的底部设有第一导电类型载流子存储层;在第二导电类型体区内设有第一导电类型发射区以及第二导电类型活性欧姆接触区,第一导电类型发射区与活性元胞沟槽的外侧壁接触,第二导电类型活性欧姆接触区位于第一导电类型发射区间,并与两侧的第一导电类型发射区接触;第一导电类型发射区、第二导电类型活性欧姆接触区与第一主面上方的第一发射极金属欧姆接触;活性元胞导电多晶硅与第一主面上方的栅电极金属欧姆接触;非活性元胞的沟槽内壁以及底壁生长有绝缘栅氧化层,在所述生长有绝缘栅氧化层的非活性元胞沟槽内填充有非活性元胞导电多晶硅,在所述非活性元胞沟槽的两侧均设有第二导电类型伪体区,在所述第二导电类型伪体区内设有第二导电类型非活性欧姆接触区,所述第二导电类型非活性欧姆接触区与非活性元胞沟槽的外侧壁接触,第二导电类型非活性欧姆接触区以及非活性元胞导电多晶硅均与第一主面上的第二发射极金属欧姆接触;第二发射极金属与第一发射极金属绝缘隔离;在活性元胞沟槽的槽底以及非活性元胞沟槽的槽底均设有第二导电类型浮置区,活性元胞沟槽下方的第二导电类型浮置区包覆活性元胞沟槽的槽底,非活性元胞沟槽下方的第二导电类型浮置区包覆非活性元胞沟槽的槽底。
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