[实用新型]用于多光谱BRDF测量系统的转角装置有效

专利信息
申请号: 201621326236.5 申请日: 2016-12-06
公开(公告)号: CN206710293U 公开(公告)日: 2017-12-05
发明(设计)人: 赵忠义 申请(专利权)人: 辽宁工业大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N21/01
代理公司: 沈阳杰克知识产权代理有限公司21207 代理人: 杨华
地址: 121001 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型涉及一种用于多光谱BRDF测量系统的转角装置,底座上端面设有齿轮传动系统,齿轮传动系统上设有电机Ⅰ,齿轮传动系统上端面设有带有电机Ⅱ的支架,支架上设有探测器臂Ⅰ,探测器臂Ⅰ上设有探测器,支架底板上方设有探测臂器Ⅱ,探测器臂Ⅱ上端面设有刻度盘Ⅰ,刻度盘Ⅰ上端面设有试样架,试样架上设有试样,试样架下方设有电机Ⅲ,试样架一侧设有刻度盘Ⅱ,探测器臂Ⅱ一侧设有工作台面,工作台面上设有配重块。固定激光光源位置,在平面旋转样片和改变探测器空间位置来实现入射光和反射接收方向在半球空间的相对变化,实现了全测回封闭为小测回封闭,节省时间的同时提高工作效率。
搜索关键词: 用于 光谱 brdf 测量 系统 转角 装置
【主权项】:
一种用于多光谱BRDF测量系统的转角装置,其特征在于:底座(1)上端面设有齿轮传动系统,齿轮传动系统上设有电机Ⅰ(3),齿轮传动系统上端面设有带有电机Ⅱ(2)的支架(4),支架(4)上设有探测器臂Ⅰ(5),探测器臂Ⅰ(5)上设有探测器(6),支架(4)底板上方设有探测器臂Ⅱ(7),探测器臂Ⅱ(7)上端面设有刻度盘Ⅰ(9),刻度盘Ⅰ(9)上端面设有试样架(10),试样架(10)上设有试样(15),试样架(10)下方设有电机Ⅲ(16),试样架(10)一侧设有刻度盘Ⅱ(12),探测器臂Ⅱ(7)一侧设有配重块(11)。
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