[实用新型]非接触式安全检查系统有效
| 申请号： | 201621340865.3 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN206399836U | 公开（公告）日： | 2017-08-11 |
| 发明（设计）人： | 王安凯;王红球;易裕民;刘海辉;张建红 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 颜镝 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种非接触式安全检查系统，包括激光源(1)，用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到其包含的被检物体(4)上；光学收集器件，用于收集探测光线(11)在被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对激发光的拉曼光谱特征进行分析，以确定被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止探测光线(11)在容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入光学收集器件的感应区域。本实用新型有效地减少了探测光线在所述容器或包装物上的激发光进入收集光路的可能性，显著的降低了对被检物体的光谱信号的干扰，并且不要求探测光线远离收集光路，进而也降低了对探测光线和收集光路的设置位置的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 安全检查 系统 | ||
【主权项】：
一种非接触式安全检查系统，包括：激光源(1)，用于将探测光线(11)穿过容器(3)或包装物并投射到所述容器(3)或包装物包含的被检物体(4)上；光学收集器件，用于收集所述探测光线(11)在所述被检物体(4)上的激发光；光谱分析器(8)，用于对所述光学收集器件收集到的激发光的光谱特征进行分析，以确定所述被检物体(4)的特性；和遮挡装置，用于阻止所述探测光线(11)在所述容器(3)或包装物上的激发光至少部分地进入所述光学收集器件的感应区域。
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